Advantest Corporation présentera ses dernières solutions de test au SEMICON China 2024 du 20 au 22 mars au Shanghai New International Exhibit Center (SNIEC). Dans une exposition unique basée sur les applications, Advantest soulignera comment sa technologie de test permet des innovations dans le calcul à haute performance (HPC), l'IA, l'automobile, l'IoT et la 5G. Advantest vise à développer une technologie de test qui soutient une société sûre, sécurisée et durable, en présentant ses initiatives en matière de développement durable lors de l'événement de cette année.

AI/HPC : NOUVEAU : Pin Scale Multilevel Serial qui est à la fois le premier instrument HSIO natif et entièrement intégré élargissant la plateforme V93000 EXA Scale pour répondre aux exigences de signalisation des interfaces de communication avancées. NOUVEAU : HA1200, offrant une capacité de test de matrices avec contrôle thermique actif pour permettre une couverture de test à 100 % à la vitesse avant que les matrices ne soient assemblées dans des boîtiers 2.5D/3D. NOUVEAU : Solution thermique active de 2 kW pour la série de manipulateurs de boîtiers M487x, offrant des capacités de contrôle thermique pour permettre une couverture de test de 100 % pour les circuits intégrés à haute capacité de calcul lors du test final.

Automobile : Les équipements de test de semi-conducteurs de puissance de CREA pour une grande variété de dispositifs de puissance, y compris les tests de puissance SiC et GaN sur wafer, single-die, substrat, PKG, et module, typiquement utilisés dans les applications industrielles et automobiles. Systèmes de test SoC T2000 avec kit de développement rapide (RDK) pour tous les SoC, y compris automobile et analogique de puissance, et solutions de test IP Engine 4 pour le traitement d'image le plus rapide afin de réduire le temps et les coûts des tests CIS. Système de test T6391 avec module numériseur multicanal LCD HP qui répond aux exigences de mesure de haute précision et de haute tension pour le test des circuits intégrés de pilotage d'écran émergents.

IoT/5G : V93000 Wave Scale millimeter OTA permet de réaliser des tests paramétriques OTA en champ lointain/proche pour les applications à ondes millimétriques (5GNR2, WiGiG, Car Radar). La solution couvre les essais multi-sites pour la production de masse et peut être facilement intégrée dans l'infrastructure d'essai existante. Wave Scale RF, conçu pour la production rentable de circuits intégrés de communication 5G et Wi-Fi, y compris les dispositifs WiFi 7 et WiFi 6E.

Stockage et gestion des données : NOUVEAU : le système de test de mémoire T5230 adopte une architecture de réseau combinée pour réduire les coûts de test des plaquettes NAND/NVM, y compris le déverminage au niveau de la plaquette (WLBI). Solutions de test DRAM clé en main très variées, comprenant le déverminage au niveau de la plaquette, le test de la plaquette DRAM, le test final du noyau et le test de l'interface à vitesse élevée. Système de test de plaquettes de mémoire T5830 SSTH, offrant une empreinte économique réduite et une couverture de test CP complète pour eFlash/Smart Card et NOR/NAND flash.